產品名稱：PCT老化試驗箱

一、PCT老化試驗箱用途：

       主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置於嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿著膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因汙染造成短路等。

二、PCT老化試驗箱特點：

1、PCT高壓加速試驗箱du家采用全自動補充水位之功能,試驗永不中斷.
2、試驗過程的溫度、濕度、壓力，是真正讀取相關傳感器的讀值來顯示的，而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的，真正體現了實際的試驗參數。
3、幹燥設計，采用電熱幹燥設計確保測試區(待測品)的幹燥，確保穩定性。
4、精準的壓力/溫度對照顯示，完全符合溫濕度壓力對照表要求。
5、LED數字型定時器，當鍋內溫度達到設定值後才開始計時以確保試驗完全。
6、開始運轉時流水器自動排出未飽和蒸氣以達到zui佳蒸氣質量。

三、PCT老化試驗箱技術參數：

1.內箱尺寸: 300×450 mm(φ×D)圓形試驗箱.

2.外箱尺寸: 700×900×650 mm(W×H×D) 

3.內箱材質 : SUS 316#不鏽鋼板材質.

4.外箱材質： gao級烤漆。

5.溫度範圍 : 100℃～132℃.  (飽和蒸氣溫度).

6.濕度範圍 : 100%RH .  (飽和蒸氣濕度).

7.壓力範圍（表上壓力） : 0.0Kg/cm2～2.0Kg/cm2控製點壓力 (**壓力容量3.5Kg/cm2 ).

8.時間範圍: 0 ～ 999 小時可調.

9.溫度分布: ≤± 2.0℃.

10.升溫時間:常溫 ～ 132℃約40分鍾內. （控製點溫度）.

11.加壓時間:0.0Kg/cm2 ～ 2.0Kg/cm2 約45分鍾內（控製點壓力）.

12.控製對象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控製飽和蒸氣溫度.

13.控製方式:微電腦PID控製.

14.控製精度: ≤± 0.5℃.

15.解析精度:0.1℃.

以下是PCT老化試驗箱圖片

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